（独）物質・材料研究機構は、2月23日午前10時から、つくば市（茨城）の同機構千現地区（本部）で「NIMS先端計測シンポジウム2012」を開催する。テーマは、「材料開発ニーズに応える表層から内部に至るトータル解析技術」。参加は、無料。プログラムは、[1]スピンSEMの最近の進展（北大・小池和幸）、[2]高精度状態操作技術の開発と表面敏感計測への展開（同機構・山内泰）、[3]3次元表層領域分析技術の開発の進展（同機構・田沼繁夫）、[4]先端電子顕微鏡によるナノ材料の研究と今後の展望（名大・田中信夫）、ほか。問い合わせは、先端材料計測技術プロジェクト事務局（TEL029-859-2000、内線6546）へ。